在系统掉电或上电,功放播放状态切换,或输入音源切换时,PWM会产生启停,进而产生瞬态的POP音。如下图所示,在连续PWM动作时,开关频率及其附近的镜像频率都可以顺利的被LC滤波器滤除。而在PWM启停时,开关频率及其奇次谐波会延伸到人耳可听的20-2kHz范围内。该开关频率低于LC滤波器的截止频率,不能被滤除进而产生pop音。
图5. 连续PWM及PWM启动的时频域图
对于BTL结构的功放在进行AD调制时,PWM开启第一个Duty cycle,如果A-side拉低,Bootstrap 电容可以顺利充电,但B-side在此时拉高,这使得Bootstrap电容充电失败。Bootstrap电容提供N MOSFET的充电电压,如Bootstrap电容充电失败,则B-side 第一个PWM不能正常输出。A-side和B-side的不平衡输出会产生明显的POP音。 TI针对该类pop noise进行了优化,在AD和BD调制中,都使得第一个PWM为低,进而消除Clock fault。
图6 AD调制PWM开启示意图
3)上下电顺序错误
音频系统有严格的上下电顺序。通常功放的供电电压会比SOC的供电电压高,也比SOC电压建立时间早。为避免pop noise在SOC上电及功放上电时发生,要保持功放为Hi-zi/standby状态,且待功放充分充电后(20ms),再开启PWM波,输入音源。同理在功放断电时,为避免掉电速度不一致,我们需要Mute 并将Standby引脚拉低15ms后再进行掉电。TI 的PurePath Digital 具有优化后的启动序列,这使得可听音频带的pop音尽可能小。
4)PVDD电压/Gain值急速抬升
PVDD电压急剧上升或Gain值急速抬升均会导致pop noise 出现。在进行原理图绘制时,需要将Cstart软启动电容设置在合理的范围内,防止PVDD急速上升。此外,针对某些功放在开机第一次POP noise出现后,还出现了第二次pop noise。这是因为功放在上电后,增益值会以一定步长爬升到设定增益,如果步长设定值过大,会导致pop noise的出现。
5)Hizi-play 状态切换Clock Fault
如果喇叭不仅仅在开机或者状态转换时出现pop 音,而是当功放从Hi-zi切换到play时,连续出现POP noise,此时应当检查是否出现Clock Fault。硬件工程师可以断开SOC的IIC控制,并将IIC通过USB转接板连接到PPC3进行Clock Fault检验。
若此时出现Clock Fault 应检查输入音频信号I2S/TDM是否满足数据手册的要求(见数据手册Electrical Characteristics 中Serial Audio Port)。此外,数据手册中还有其他特殊情况的说明,以TAS6424L/M-Q1系列为例,如果客户将SCLK和MCLK连接到一起,FSYNC需要为2 MCLK以上。若SOC为高通8155系列,FYSNC输出共有3个选项:第一是2MCLK ,第二是50% duty cycle ,第三为1 slot,我们可以选择后两项作为FSYNC输入。
德州仪器TAS6424E-Q1是一款采用2.1MHz开关频率的四通道数字输入D类音频放大器。在成本方面,该芯片工作频率为2.1MHz,这使得芯片可以使用体积更小,成本更低的LC滤波器,进而实现整体成本优化。在提高开关频率的同时, TI TAS6424E-Q1芯片通过展频及PWM序列优化具备良好的EMI表现。另外,该芯片集成了AC、DC故障诊断,可实现负载短路到电源、负载短路到地、负载开路、负载短路等故障诊断,并实现高精度的负载阻抗和相位测量。此外,TAS6424E-Q1芯片中集成了上电启动序列优化及第一个PWM为低等抑制pop 音的解决方案,实现了良好的用户听音感受。除低pop noise外,该芯片的Burr-Brown音频架构和增加的内部音频环路带宽也可提供出色的音质,带来良好的用户体验。